微操纵器工作原理
典型微操纵器主要组成：探针夹座、可调探针臂、千分尺调节轴、磁吸底座。可通过通用工具转接件加装移液管、注射器、光纤等其他工具。
手动微操纵器凭借直观手动操控、操作简单、性价比高而广泛使用。千分尺旋钮与运动方向对齐，探针如同人手的延伸，触觉反馈优异，便于精准定位。
电学实验中，SMA 接口可将微操纵器连接至源测量单元等测试设备。自带线缆压块固定同轴电缆，降低电噪声，获得更干净的数据。磁吸底座可吸附在金属平板上（例如 Ossila 探针台平台），保障测试环境稳定。
运动参数
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项目
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T2007A1
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T2007B1
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驱动轴
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X、Y、Z
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X、Y、Z
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微调驱动
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普通千分尺
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细牙千分尺
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单轴*大行程
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10 mm
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10 mm
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刻度有效行程
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6.5 mm
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6.5 mm
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千分尺读数分辨率
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10 μm
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5 μm
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千分尺螺杆牙距
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每英寸 50 牙
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每英寸 100 牙
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*小可实现位移
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约 4‑8 μm
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约 2‑4 μm
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探针*大直径
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0.8 mm
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0.8 mm
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探针参数
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项目
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参数
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探针材质
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纯度＞99.95% 钨
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针尖直径
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20 μm
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探针漏电流
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±75 V 直流条件下＜100 pA
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探针通路电阻
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≤0.3 Ω
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探针长度
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32 mm
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探针杆直径
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0.508 mm
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探针接口
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SMA
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漏电流与探针通路电阻
开展电学表征实验时，应尽可能降低测量链路总电阻。微操纵器连接测试仪器后，附加电阻来自三部分：引线电阻、接触电阻、系统通路电阻。
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引线电阻：探针与仪器之间电缆、导线带来的电阻。
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接触电阻：针尖与被测样品界面的电阻；受接触不完全、焊盘形貌、表面粗糙度、氧化层、样品污染影响。
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系统通路电阻：从针尖经过操纵臂路径上产生的全部电阻；操纵臂晃动、位移、接触**都会增大该通路电阻。
实测 Ossila 微操纵器（针尖至仪器端）通路电阻＜0.3 Ω；该数值受探针‑样品接触状态、所用电缆型号影响。
漏电流指非目标回路的意外电流，例如通过绝缘层、表面、寄生路径产生的漏电。在 nA、pA 级高精度器件表征中，微小漏电流也会带来噪声与偏移误差。Ossila 钨探针在 75 V 直流条件下漏电流＜100 pA。
产品特点
高精度三轴定位
三轴*小位移可达 2 μm，实现精准可靠探针测试。各轴配置精密线性轴承，运动顺滑可复现；弹簧预紧轴承消除回差，敏感实验也可获得准确测量。
舒适手动操控
支持盲操作，使用者专注显微镜视野。千分尺旋钮与对应运动轴同向，调节直观。磁吸底座可直接适配 Ossila 探针台，快速搭建探针测试系统。
直流探针测试
低漏电流、低通路电阻，保障微弱电学测试的数据准确。SMA 接口快速安装；线缆压块固定同轴电缆，抑制振动与噪声干扰；搭配转接件可对接几乎所有源测量单元。
实验拓展性强
可替换钨探针，兼容各类探针、注射器、微量移液管、真空吸针、光纤等工具。适配实验室多样化需求，无论何种应用场景，均可发挥优异定位精度。
应用领域
微操纵器广泛用于各类微观尺度实验，典型应用如下：
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器件表征：探针定位测量多种电学参数，评估器件性能、可靠性与应用适配性。
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材料研发：研究有机半导体、二维材料、纳米结构等新型材料的电学特性。
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晶圆级测试：半导体制造中，晶圆划片分割芯片之前，完成芯片性能评估与早期缺陷筛查。
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失效分析：器件故障时，探测分立元器件与连接点位，定位故障根源。
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光电器件测试：搭配光源与探测器，测试光电二极管、LED、激光二极管等光电器件。
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电生理实验：操控微电极采集神经元、肌细胞电信号，实时研究离子通道、突触传递与神经回路。
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细胞生物学：细胞分子注射、膜片钳实验、单细胞分离等生物学操作。
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基因工程：显微镜下向细胞显微注射 DNA/RNA，显微解剖微小组织样本。参数
底座类型：永磁底座
主体材质：阳极氧化铝
外形尺寸（长 × 宽 × 高）：155 mm × 74 mm × 78 mm（6.10"× 2.91" × 3.07"）
伸展状态尺寸（长 × 宽 × 高）：231 mm × 77 mm × 84 mm（9.09"× 3.03" × 3.31"）
重量：400 g
单台装箱清单
微操纵器主机
20 μm 钨探针针尖
1 米 SMA‑SMA 同轴电缆
技术文档资料