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等间距硅标样

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产品名称: 等间距硅标样
产品型号:
产品展商: Ted pella
产品文档: 无相关文档

简单介绍


等间距硅标样  的详细介绍

SEM和光学显微镜中的放大率校准或图像扭曲失真检查,不带证书的版本。标样材质为单晶硅,厚度675µm,硅晶体取向为<100>,5mmx 5mm,正方形每10µm重复一次,分界线宽约1.9µm,由电子束光刻形成。每500µm(0.5mm)有一条更宽的标记线,可用于光学显微镜的图像检测。刻蚀线条深度约为300nm。

Many types of samples can be mounted directly onto the Silicon Test Specimen so that an internal calibration is obtained in the image.
Thickness: 675µm
Si crystal orientation: <100>
Wafer type: P-type/boron doped
Resistance: 1-30 Ohm/cm

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